Prosím počkejte chvíli...
Nepřihlášený uživatel
Nacházíte se: VŠCHT PrahaFCHTÚstav skla a keramiky  → Vybavení ústavu skla a keramiky → Mikroskopie
iduzel: 45964
idvazba: 51126
šablona: stranka_ikona
čas: 16.1.2019 06:54:43
verze: 4545
uzivatel:
remoteAPIs:
branch: trunk
Obnovit | RAW

Mikroskopie

Mikroskopické techniky dostupné na Ústavu skla a keramiky.

Makrooptika Navitar 12x

navitar.com

  • Makrooptika Navitar se používá k zobrazení objektů televizní nebo digitální kamerou. Základní sestavu makrooptiky Navitar tvoří zoomový objektiv a TV adapter s C-mountem. Celkové zvětšení a pracovní vzdálenost lze upravit pomocí předsádkových čoček. Výhodou makrooptiky Navitar je značná variabilita uspořádání, která dovoluje provést specifická měření na specifických vzorcích. Např. velké vzorky, probíhající chemická reakce, fluorescenční měření, apod.
  • Předmět nejčastěji nasvěcujeme vláknovou optikou - buďto samostatnými světlovody nebo kruhovým osvětlovačem, který lze na makroobjektiv připevnit pomocí mechanického adaptéru.
  • Navitar 12x má základní parfokální zoom 12x (0.58x - 7x) s numerickou aperturou 0.018 - 0.1. V závislosti na kombinaci velikosti čipu kamery, zvolené předsádky a TV adaptéru umožňuje zobrazit zorné pole 0.27 mm - 83 mm.
  • Makroptika zvětšuje stejně jako stereomikroskop, ale sleduje objekt kolmo (vhodné pro měření)
  • Sestava je připevněna ke stativu pomocí držáku s doostřováním (30 mm)

Polarizační mikroskop Nikon Eclipse E400 Pol

  • Mikroskop umožňuje pozorování výbrusů, nábrusů i neupravených vzorků v procházejícím i dopadajícím polarizovaném světle a ve zkřížených polarizátorech. Je vhodný pro mineralogickou mikroskopickou analýzu, optoelastická měření napětí, spektrální měření propustnosti ve viditelné oblasti, měření barevnosti, obrazovou analýzu materiálů, analýzu částic, 3D charakterizaci povrchů apod.
  • Mikroskop je vybaven CCD 5Mpx kamerou Nikon DS-U2/L2, software pro analýzu obrazu NIS-Elements 3.1, automatickým Z-posuvem Prior Optiscan II, sadou kompenzátorů (λ,λ/4,křemenný klín, de Sénarmont) a vláknovým UV-VIS spektrometrem SD 2000.

objektivy:

zvětšení

 numerická apertura

průměr zorného pole při pozorování v okulárech [mm]

rozměry obrazu pořízené dig. kamerou 1/2" [µm]

typ 

pracovní vzdálenost [mm]

4x

0,10

5,300

2176 x 1632

Planachromat/Pol

30

10x

0,25

2,120

870 x 653

Planachromat/Pol

7,0

20x

0,40

1,060

435 x 326

Planachromat/Pol

3,8

40x

0,65

0,530

205 x 154

Planachromat/Pol

0,17

100x

0,95

0,215

77 x 58

Planachromat/Pol

0,30


Rastrovací elektronový mikroskop Hitachi S 4700

Elektronový mikroskop Hitachi S-4700 se studenou katodou. Je vybavený dvěma detektory sekundárních elektronů a jedním detektorem odražených elektronů.

Vybrané parametry:

  • Rozlišení:                            1,5 nm,
  • Zvětšení                             20x - 500 000x,
  • Urychlovací napětí         0,5 - 30 kV.

Omezení:

  • Magnetické materiály lze sledovat pouze celistvé (ne prášky) a o malém objemu.
  • Pozorovat lze pouze pevnou fázi s malou tenzí par (např. ne vlhké vzorky).
  • Některé vzorky (organické látky, polymery) jsou citlivé na elektronový svazek a rozkládají se.

Velikost vzorku: pro pohodlné sledování celého vzorku je doporučovaná velikost do 2 x 2 cm2, maximální velikost vzorku je až 8 x 8 cm2, v tomto případě je však pro pozorování dostupný pouze střed vzorku. Maximální výška vzorku je 2 cm, ideálně do 1,5 cm.


SSD detektor rtg. záření (Rtg. mikroanalýza)

Mikroskop Hitachi je vybaven SDD (silicon drifted detector) detektorem fotonů, takže umožňuje provozovat analytickou metodu označovanou jako EPMA. Někdy se metoda označuje i jako EDS, EDS – SEM, zdůrazňujíc tak použitý typ detektoru a to, že samotný přístroj není speciální mikroanalyzátor, ale mikroskop s detektorem fotonů.

Vybrané parametry

  • Kvalitativní prvková analýza       od B; zpracování spektra: top-hat filtr, metoda Gausiánů, matching
  • Kvantitativní prvková analýza    od B; ZAF, PROZA, Cliff-Lorimer
  • Přesnost kvantitativní analýzy  až 1 rel. wt%
  • Typické laterální rozlišení            ~1 um2
  • Typické hloubkové rozlišení         ~ um
  • Typická citlivost                           10 - 100 ppm

 

  • Spektrální rozlišení                      130 eV (Kalfa Mn)

Aktualizováno: 8.1.2019 14:57, Autor: Jan Macháček

VŠCHT Praha
Technická 5
166 28 Praha 6 – Dejvice
IČO: 60461373
DIČ: CZ60461373

Datová schránka: sp4j9ch

Copyright VŠCHT Praha
Za informace odpovídá Oddělení komunikace, technický správce Výpočetní centrum
Zobrazit plnou verzi